Możliwości badawcze:

- Badania na mikroskopie AFM:

• obserwacje powierzchni z wysoką rozdzielczością, zakresy skanowania do 120x120 mikrometrów,
• wyznaczanie parametrów chropowatości, badanie własności magnetycznych (występowanie i konfiguracja domen),
• mikroskopia tunelowa materiałów przewodzących,
• mikroskopia sił bocznych, mikroskopia własności elektrycznych powierzchni,
• obrazowanie 3D powierzchni, kontrast amplitudowy, fazowy, tryby pracy: kontaktowy, bezkontaktowy, półkontakt,
• wyznaczanie parametrów stereologicznych bardzo małych detali (zakres nanometryczny).

- Badania metodą Scratch Test (test zarysowania):

• określenie adhezji powłok, odporności na zarysowania, kontrola jakości,
• pomiary mikrotwardości,
• pomiary chropowatości powierzchni (metoda stykowa),
• badania odporności na zużycie ścierne w styku trzpień-tarcza (Pin-on-disc), rolka-klocek (T-05),
• badanie tribologiczne w podwyższonych temperaturach.