Możliwości badawcze:

• wysokorozdzielcze badania mikrostruktury materiałów przewodzących, nieprzewodzących i podatnych na kontaminację w wysokiej i niskiej próżni, przy wysokich i niskich napięciach przyspieszających,
• możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów  wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Zdolność rozdzielcza do 4 nm,  powiększenia 70 – 100 000x,
• badania mikrostruktury wytrawionych zgładów oraz napylanych replik z badań nieniszczących,
• badania fraktograficzne przełomów wraz z oceną charakteru przełomu,
• badania topografii powierzchni materiałów nieprzewodzących po napyleniu metalami szlachetnymi,
• analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru,
• możliwość wykonywania analizy ilościowej pierwiastkowej z punktu, linii, wybranego obszaru oraz rozkład pierwiastków w mikroobszarach („mapping”).