17.01.2020 r. o godzinie 11:00 w sali 341 - zapraszamy na prezentację urządzenia KEYENCE VHX-7000.
Podczas spotkania zostanie przedstawiony system oraz przeprowadzone zostaną interesujące badania na dostarczonych próbkach.
Głównymi cechami odróżniającymi systemy KEYENCE VHX są :
-pomiary 2D – pomiar grubości warstw, pomiary geometryczne
-możliwość obserwacji próbki pod kątem – możliwość obserwacji pod kątem do 90 stopni bez zmiany położenia próbki
-tworzenia modeli 3D
-pomiary 3D– możliwość pomiaru profilu bez cięcia próbki, pomiar defektów, mikropęknięć, charakterystyk, porowatości
-powiększenia od 0,1x do 5000x,
-możliwość obserwacji powierzchni odbijających światło – funkcja usuwania odblasków dla próbek mocno refleksyjnych,
-automatyczny pomiar powierzchni - możliwość pomiaru % zawartości  na przekroju materiałów,pomiar ilości wtrąceń,
-automatyczne zliczanie ziaren zgodnie z normą ISO dla Ferrytu i Austenit ( metodą ASTM ),
-automatyczny pomiar zanieczyszczeń na sączkach – norma ISO 16232 oraz VDA19,
-pomiar chropowatości powierzchni zgodnie z normą ISO,
-obserwacja w ciemnym i jasnym polu,
-Shadow Effect Microscopy – obrazowanie powierzchni oraz jej wad za pomocą jednego kliknięcia,
-rutyny pomiarowe 2D.
Dodatkowo podstawowymi cechami urządzenia jest : szybkość, łatwość obsługi oraz wszechstronne zastosowanie.