Możliwości badawcze:
- wysokorozdzielcze badania mikrostruktury materiałów przewodzących, nieprzewodzących i podatnych na kontaminację w wysokiej i niskiej próżni, przy wysokich i niskich napięciach przyspieszających,
- możliwość obserwacji powierzchni materiałów w systemie detekcji elektronów wtórnych (SE) i elektronów wstecznie rozproszonych (BSE). Zdolność rozdzielcza do 4 nm, powiększenia 70 – 100 000x,
- badania mikrostruktury wytrawionych zgładów oraz napylanych replik z badań nieniszczących,
- badania fraktograficzne przełomów wraz z oceną charakteru przełomu,
- badania topografii powierzchni materiałów nieprzewodzących po napyleniu metalami szlachetnymi,
- analizy chemiczne pierwiastków w próbkach począwszy od boru,
- możliwość wykonywania analizy ilościowej pierwiastkowej z punktu, linii, wybranego obszaru oraz rozkład pierwiastków w mikroobszarach („mapping”).